Espectrômetro FT/IR

Espectrofluorímetros
22 de janeiro de 2020
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22 de janeiro de 2020
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As séries de FT/IR-4x, FT/IR-6x e FT/IR-8x oferecem uma grande gama de possibilidades desde ensino e análises de rotinas até pesquisa e desenvolvimento, com características como alta qualidade e forte desempenho.
Modelos compactos oferecem operações confiáveis com maior relação sinal/ruído na indústria. Projetados
para apresentar alta flexibilidade e capacidade de expansão de equipamento, estes equipamentos são
ideais para todas as necessidades dos laboratórios modernos.

FT/IR-4X

 

FT/IR-4X é um espectrômetro FTIR de infravermelho médio altamente eficiente, repleto de recursos característicos de instrumentos de pesquisa de alta qualidade. Inclui janelas de KRS-5 não higroscópicas para prevenir danos ao interferômetro, um detector DLaTGS com controle de temperatura e uma fonte cerâmica de alto rendimento para garantir máxima sensibilidade. O alinhamento óptico permanente é assegurado por espelhos de cubo de canto (retro-reflexivos) com autoalinhamento para garantir máxima eficiência energética.

 

Especificações:

Faixa padrão de medição de número de onda

7.800 a 350cm-1

Faixa de número de onda opcional

11.500 a 375 cm-1, 6.000 a 220 cm-1, 6.000 a 50 cm-1

Resolução

0.4, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm-1

Câmara de Amostra

Dimensões: 200 (L) × 260 (P) × 185 (A) mm
Caminho óptico: Foco central, eixo de luz a 70 mm de altura

Interferômetro

Interferômetro Michelson 45°
Interferômetro de espelho cubo de canto, com
mecanismo de alinhamento automático, estrutura selada, controle DSP

Revestimento de espelho

Alumínio (Al)

Purga com N2 e Vácuo

Compartimento de amostra/detector

Interferômetro (opcional)

N / A

Método de acionamento

Rolamento mecânico,
acionamento eletromagnético

Varredura rápida

80 espectros/seg (resolução de 16 cm-1)

Divisor de feixe

Padrão: Ge/KBr
Opção: Si/CaF2, Ge/CsI (não intercambiável)

Fonte de luz

Padrão: Fonte cerâmica de alta intensidade
Opção: Lâmpada halógena (somente opção de fábrica)

Detector

DLaTGS (com controle de temperatura Peltier) (padrão)

Detectores opcionais

W-MCT, M-MCT, N-MCT, Si, InSb, InGaAs (opcional)
Podem ser instalados até dois detectores.

Relação sinal-ruído

(4 cm-1, 1 min, próximo a 2.200 cm-1)

35.000:1

Comunicação

USB 2.0

Dimensões e peso
386 (L) × 479 (P) × 254 (A) mm, 18 kg

FT/lR-6X

 

Os espectrômetros FT/lR-6X, equipados com um interferômetro de Michelson de 28 graus e laser de temporização de diodo, destacam-se como uma escolha excepcional para aplicações de pesquisa mais exigentes. Oferecem maior capacidade de processamento, aprimorado desempenho de polarização e uma abordagem mais flexível para amostragem e medição, atendendo às demandas de estudos mais complexos.

 

Especificações:

Faixa padrão de medição de número de onda

7.800 a 350cm-1

Faixa de número de onda opcional

2.500 a 20 cm-1

Resolução

0.25, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm-1

Câmara de Amostra

Dimensões: 200 (L) × 260 (P) × 185 (A) mm
Caminho óptico: Foco central, eixo de luz a 70 mm de altura

Interferômetro

Interferômetro de Michelson com 28° de inclinação, equipado com espelho de cubo de canto, estrutura selada (janela de KRS-5, opção de janela adicional disponível), mecanismo de autoalinhamento, controle DSP, revestimento de espelho em alumínio.

Revestimento de espelho

Alumínio (Al)

Purga com N2 e Vácuo

Compartimento de amostra/detector

Interferômetro

Vácuo total (Opcional)

Método de acionamento

Rolamento mecânico,
acionamento eletromagnético

Varredura rápida

40 espectros/seg (resolução de 16 cm-1)

 

Divisor de feixe

Padrão: Ge/KBr
Opção: Si/CaF2, Quartzo de banda larga, Si/CaF2, KBr de banda larga, Mylar de banda larga, Banda larga de infravermelho médio-longo (intercambiáveis, opcionalmente disponível trocador automático de divisor de feixe)

Fonte de luz

Padrão: Fonte cerâmica de alta intensidade
Opção: Lâmpada halógena (somente opção de fábrica)

Detector

DLaTGS (com controle de temperatura Peltier) (padrão)

Detectores opcionais

MCT-N, MCT-M, MCT-W, MCT-PV, Fotodiodo de Silício (visível, infravermelho próximo), InSb, InGaAs, DLaTGS (janela de polietileno), DLaTGS de banda larga, Bolômetro de Silício, DLaTGS (para micromedição). Até 2 detectores podem ser montados dentro da unidade principal, e a unidade de detector externo deve ser aplicada se mais de 3 detectores forem utilizados (comutação por PC). Existem algumas opções limitadas de detectores para montagem dentro da unidade principal, e até 2 detectores podem ser montados na unidade de detector externo.

Relação sinal-ruído

(4 cm-1, 1 min, próximo a 2.200 cm-1)

47.000:1

Comunicação

USB 2.0

Dimensões e peso
FT/IR-6X Modelo de Purificação: 600 (L) × 690 (P) × 315 (A) mm, 56 kg

FT/IR-6X Modelo de Vácuo com Interferômetro: 600 (L) × 690 (P) × 315 (A) mm, 58 kg

FT/IR-6X Modelo de Vácuo Completo: 600 (L) × 700 (P) × 355 (A) mm, 70 kg

FT/IR-8X

 

O FT/IR-8X representa o ápice da tecnologia de espectroscopia FTIR da JASCO, oferecendo uma notável relação sinal-ruído de 55.000:1 e a resolução mais alta registrada de 0,07 cm-1. Este sistema óptico altamente configurável é aplicável a uma ampla gama de aplicações FTIR, desde medições simples no infravermelho médio até análises mais complexas no infravermelho próximo e distante. As medições com base em pesquisa tornam-se simples com os espectrômetros FT/lR-8X, que incluem opções como óptica de porta de emissão, detectores externos, vácuo completo e varredura por etapas.

Especificações:

Faixa padrão de medição de número de onda

7.800 a 350cm-1

Faixa de número de onda opcional

2.500 a 20 cm-1

Resolução

0.07, 0.25, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm-1

Câmara de Amostra

Dimensões: 200 (L) × 260 (P) × 185 (A) mm
Caminho óptico: Foco central, eixo de luz a 70 mm de altura

 Interferômetro

Interferômetro de Michelson com 28° de inclinação, equipado com espelho de cubo de canto, estrutura selada (janela de KRS-5, opção de janela adicional disponível), mecanismo de autoalinhamento, controle DSP, revestimento de espelho em alumínio.

Revestimento de espelho

Ouro (Au)

Purga com N2 e Vácuo

Compartimento de amostra/detector

Interferômetro

Vácuo total (Opcional)

Método de acionamento

Rolamento mecânico,
acionamento eletromagnético

Varredura rápida

40 espectros/seg (resolução de 16 cm-1)

Divisor de feixe

Padrão: Ge/KBr
Opção: Si/CaF2, Quartzo de banda larga, Si/CaF2, KBr de banda larga, Mylar de banda larga, Banda larga de infravermelho médio-longo (intercambiáveis, opcionalmente disponível trocador automático de divisor de feixe)

Fonte de luz

Padrão: Fonte cerâmica de alta intensidade
Opção: Lâmpada halógena (somente opção de fábrica)

Detector

DLaTGS (com controle de temperatura Peltier) (padrão)

Detectores opcionais

MCT-N, MCT-M, MCT-W, MCT-PV, Fotodiodo de Silício (visível, infravermelho próximo), InSb, InGaAs, DLaTGS (janela de polietileno), DLaTGS de banda larga, Bolômetro de Silício, DLaTGS (para micromedição). Até 2 detectores podem ser montados dentro da unidade principal, e a unidade de detector externo deve ser aplicada se mais de 3 detectores forem utilizados (comutação por PC). Existem algumas opções limitadas de detectores para montagem dentro da unidade principal, e até 2 detectores podem ser montados na unidade de detector externo.

Relação sinal-ruído

(4 cm-1, 1 min, próximo a 2.200 cm-1)

55.000:1

Comunicação

USB 2.0

Dimensões e peso
FT/IR-8X Modelo com Purificação: 600 (L) × 690 (P) × 315 (A) mm, 56 kg

FT/IR-8X Modelo com Vácuo no Interferômetro: 600 (L) × 690 (P) × 315 (A) mm, 58 kg

FT/IR-8X Modelo com Vácuo Completo: 600 (L) × 700 (P) × 355 (A) mm, 70 kg

Unidade de Alimentação: 85 (L) × 260 (P) × 197 (A) mm, 4,7 kg

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