FT/IR-4X é um espectrômetro FTIR de infravermelho médio altamente eficiente, repleto de recursos característicos de instrumentos de pesquisa de alta qualidade. Inclui janelas de KRS-5 não higroscópicas para prevenir danos ao interferômetro, um detector DLaTGS com controle de temperatura e uma fonte cerâmica de alto rendimento para garantir máxima sensibilidade. O alinhamento óptico permanente é assegurado por espelhos de cubo de canto (retro-reflexivos) com autoalinhamento para garantir máxima eficiência energética.

Especificações

Faixa padrão de medição de número de onda

7.800 a 350cm^-1

Faixa de número de onda opcional

11.500 a 375 cm^-1, 6.000 a 220 cm^-1, 6.000 a 50 cm^-1

Resolução

0.4, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm^-1

Câmara de Amostra

Dimensões: 200 (L) × 260 (P) × 185 (A) mm
Caminho óptico: Foco central, eixo de luz a 70 mm de altura

Interferômetro

Interferômetro Michelson 45°
Interferômetro de espelho cubo de canto, com
mecanismo de alinhamento automático, estrutura selada, controle DSP

Revestimento de espelho

Alumínio (Al)

Purga com N₂ e Vácuo

Compartimento de amostra/detector

Interferômetro (opcional)

N / A

Método de acionamento

Rolamento mecânico,
acionamento eletromagnético

Varredura rápida

80 espectros/seg (resolução de 16 cm^-1)

Divisor de feixe

Padrão: Ge/KBr
Opção: Si/CaF₂, Ge/CsI (não intercambiável)

Fonte de luz

Padrão: Fonte cerâmica de alta intensidade
Opção: Lâmpada halógena (somente opção de fábrica)

Detector

DLaTGS (com controle de temperatura Peltier) (padrão)

Detectores opcionais

W-MCT, M-MCT, N-MCT, Si, InSb, InGaAs (opcional)
Podem ser instalados até dois detectores.

Relação sinal-ruído

(4 cm^-1, 1 min, próximo a 2.200 cm^-1)

35.000:1

Comunicação

USB 2.0

Dimensões e peso
386 (L) × 479 (P) × 254 (A) mm, 18 kg